| 全部作者 | 趙 宗明 |
|---|---|
| 作者順序 | 第二作者 |
| 論文名稱 | Development Pattern Recognition Model for the Classification of Circuit Probe Wafer Maps on Semiconductors |
| 刊物名稱 | IEEE TRANSACTIONS ON COMPONENTS PACKAGING AND MANUFACTURING TECHNOLOGY |
| 出版日期 | 2012-12-01 |
| 全部作者 | 趙 宗明 |
|---|---|
| 作者順序 | 第二作者 |
| 論文名稱 | Development Pattern Recognition Model for the Classification of Circuit Probe Wafer Maps on Semiconductors |
| 刊物名稱 | IEEE TRANSACTIONS ON COMPONENTS PACKAGING AND MANUFACTURING TECHNOLOGY |
| 出版日期 | 2012-12-01 |